[发明专利]装置异常监视方法以及系统有效

专利信息
申请号: 201080025827.8 申请日: 2010-05-13
公开(公告)号: CN102460529A 公开(公告)日: 2012-05-16
发明(设计)人: 玉置研二;三轮俊晴 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G08B31/00 分类号: G08B31/00;G08B29/02
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;郭凤麟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及装置异常监视方法,是能够实现高精度的异常检测、原因诊断等的技术。在本系统中,涉及多个类似的装置(1)中的、新设的装置(T)的监视,在判定模型生成模块(2)中,针对每个已经设置的多个(K)类似装置(a、b)等,生成个别的判定模型(预测模型),生成根据各装置(1)的特征项目值等来预测这些预测模型的系数以及截距的总体预测模型,根据该总体预测模型生成装置(T)专用的预测模型(包含该预测模型而成的判定模型)。使用该判定模型,判定模块(3T)监视装置(T)的状态,进行异常检测。
搜索关键词: 装置 异常 监视 方法 以及 系统
【主权项】:
一种装置异常监视方法,其使用计算机的信息处理,将类似的多个(K+1)装置作为处理对象,根据使用传感器对所述装置的状态进行测量获得的该各个装置的多个数据项目,进行监视以及判定所述多个(K+1)中的至少一个装置的状态的异常的处理,该装置异常监视方法的特征在于,所述多个(K+1)装置中的一个第一装置成为监视以及判定的对象,其它多个(K)第二装置成为取得用于生成第一模型的数据的对象,所述第一模型用于所述第一装置的监视以及判定,所述装置异常监视方法具有:进行如下的处理的第一步骤,基于根据所述多个(K)第二装置中的各个第二装置的正常时的多个数据项目生成的、用于所述监视以及判定的个别装置专用的多个(K)预测模型,生成所述第一装置专用的第一模型;以及进行如下的监视执行处理的第二步骤,以预定时间为单位,输入来自所述第一装置的多个数据项目,使用所述第一模型,监视以及判定所述第一装置的状态的异常,在检测到异常时,输出检测信息,在所述第一步骤中,具有以下步骤:将所述多个(K)第二装置中的各个第二装置的多个数据项目分类为回归分析中的目的变量和目的变量以外的说明变量;生成作为所述多个(K)第二装置中的各个第二装置的个别的预测模型的多个(K)回归模型;生成根据该第二装置中的各个第二装置的特征项目值或设置环境测量值,来预测所述多个(K)回归模型的系数以及截距的、类似装置共用总体预测模型;以及向所述总体预测模型输入所述第一装置的特征项目值或设置环境测量值,生成作为所述第一模型的回归模型的系数以及截距,由此生成所述第一模型,在所述第二步骤中,具有以下步骤:向所述第一模型输入该第一装置的多个数据项目中的说明变量,计算目的变量的预测值;计算所述目的变量的实测值和该预测值之间的偏离度;以及通过将所述偏离度与阈值进行比较来检测所述第一装置的异常。
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