[发明专利]用于微电路测试器的导电开尔文接触件有效
申请号: | 201080027549.X | 申请日: | 2010-04-21 |
公开(公告)号: | CN102483435A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 乔尔·N·厄尔德曼;杰弗里·C·谢里;加里·W·米哈尔科 | 申请(专利权)人: | 约翰国际有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 陈源;张天舒 |
地址: | 美国明*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 由一系列的导电接触件将待测器件的端子与相应的接触焊盘或引线连接起来。每一个端子测试与“施力”接触件和“感测”接触件二者连接。在一种实施方式中,感测接触件部分地或完全地沿横向围绕着施力接触件,从而它不必具有自身的弹性。感测接触件具有叉形末端,叉形末端具有延伸到施力接触件的相对两侧的叉股。可替换地,感测接触件围绕着施力接触件并且沿横向滑动,以便与施力接触件纵向挤压期间的施力接触件的横截面的横向平移分量相匹配。可替换地,感测接触件包括杆,这些杆具有处于施力接触件相对两侧的端部并且平行地延伸。 | ||
搜索关键词: | 用于 电路 测试 导电 开尔文 接触 | ||
【主权项】:
一种在具有多个端子(2,502)的待测器件(1)之间形成多个临时机械和电气连接的装置,包括:朝向待测器件(1,501)延伸并且可偏转的多个导电施力接触件(72,552),所述多个施力接触件中的每一个施力接触件(72,552)被横向地排列成与一个端子(2,502)相对应;以及多个导电的感测接触件(74,554),所述多个感测接触件中的每一个感测接触件(74,554)被横向地排列成与一个施力接触件(72,552)和一个端子(2,502)相对应,所述多个感测接触件中的每一个感测接触件(74,554)朝向待测器件(1,501)延伸,接近相应的施力接触件(72,552);其中多个感测接触件中的每一个感测接触件(74,554)包括朝向待测器件(1,501)弹性地延伸的可自由移动的部分(76,554)其中感测接触件在横向上与相应的施力接触件(72,552)分离开;并且其中自由部分包括位于其末端的叉形部分(78,554a,b,c,d),该叉形部分在相应的施力接触件(72,552)的末端的相对两侧延伸。
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