[发明专利]检测对非易失性储存器的编程的完成有效
| 申请号： | 201080027960.7 | 申请日： | 2010-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN102483953A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 格里特·扬·赫明克 | 申请（专利权）人： | 桑迪士克技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/10 | 分类号： | G11C16/10;G11C16/34;G11C11/56 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 朱胜;陈炜 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一组非易失性储存元件经受编程处理以便存储数据。在编程处理期间，执行一个或更多个验证操作(Vvz、Vvb、Vvc)，以确定非易失性储存元件是否达到其目标条件来存储适当的数据。当所有非易失储存元件达到其目标电平时、或当尚未达到其目标电平的非易失性储存元件的数量小于在读取操作(或其它操作)期间可以使用错误校正处理校正的存储单元的数量时，可以停止编程。可以通过对尚未达到不同于(例如，低于)目标电平的条件(VvIc)的非易失性储存元件的数量进行计数，来估计尚未达到其目标电平的非易失性储存元件的数量。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 非易失性 储存器 编程 完成 | ||
【主权项】：
一种对非易失性储存器进行编程的方法，包括：将编程信号施加于第一组非易失性储存元件，以便将所述第一组非易失性储存元件编程为第一目标条件；确定尚未达到中间条件的所述第一组非易失性储存元件的数量是否小于比较值，所述中间条件与所述第一目标条件不同；以及响应于确定尚未达到所述中间条件的所述第一组非易失性储存元件的数量小于所述比较值，结束所述第一组非易失性储存元件的编程。
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