[发明专利]二次电池的劣化诊断方法及劣化诊断装置无效
| 申请号： | 201080029450.3 | 申请日： | 2010-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN102472794A | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 汤浅真一 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/36 | 分类号： | G01R31/36;B60R16/04;H01M10/48 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 戚宏梅;杨谦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 在二次电池的充电过程中，求出二次电池的电压V成为规定电压Vpre时的电压变化率dV/dt，检测对二次电池进行充电的充电电流I，基于该检测结果，计算二次电池的充电电量Q的变化率dQ/dt。其中，电压Vpre是大于等于放电终止电压且小于充电终止电压的电压。并且，计算充电电量变化率dQ/dt与上述电压变化率dV/dt的比值X即dQ/dV。将计算出的比值X与基准值Xref进行比较，基于其比较结果判断二次电池的劣化。 | ||
| 搜索关键词： | 二次 电池 诊断 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种二次电池的寿命诊断方法，其中，包括：在二次电池的伴随电压变化的充电过程中，得到上述二次电池的电压变化率的步骤；得到上述二次电池的充电电量变化率的步骤；以及基于上述充电电量变化率及上述电压变化率，判断上述二次电池的劣化的步骤。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社，未经松下电器产业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080029450.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：包覆导电粒子及其制造方法
- 下一篇：富含ω-3脂肪酸的饮料
