[发明专利]系统芯片的缺点检测无效

专利信息
申请号: 201080031112.3 申请日: 2010-07-07
公开(公告)号: CN102473121A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 斯蒂芬·波莱德纳 申请(专利权)人: FTS电脑技术有限公司
主分类号: G06F11/00 分类号: G06F11/00;H04L12/56;G06F15/78
代理公司: 北京天平专利商标代理有限公司 11239 代理人: 孙刚
地址: 奥地利*** 国省代码: 奥地利;AT
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摘要: 发明涉及用于在包含若干IP芯核的系统芯片(SoC)中辨识缺点的方法,其中各IP芯核均为缺点包容单位,且当中该些IP芯核通过网络芯片,以信息的方式互相通信,此外,其中优等的IP芯核提供TRM(可信资源监视器),其中(独立的)缺点包容单位会辨识和推出从一个非优先IP芯核发送至另一非优先IP芯核的带缺点的控制信息,如此一来,这带缺点的控制信息就不会导致信息接受方有任何故障。
搜索关键词: 系统 芯片 缺点 检测
【主权项】:
用来在包含若干IP芯核的系统芯片(SoC)中侦测缺点的方法,各IP芯核均为缺点包容单位,该些IP芯核通过网络芯片以信息的方式互相通信,而优等的IP芯核则执行TRM(可信资源监视器),其特征在于从非优先IP芯核发送到另一非优先IP芯核的带缺点的控制信息是由缺点包容单位侦测出来和丢弃的,以致这带缺点的控制信息不会导致信息接收方发生故障。
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