[发明专利]光学传感器及使用方法有效

专利信息
申请号: 201080032395.3 申请日: 2010-05-27
公开(公告)号: CN102639966A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 马哈茂德·法哈蒂罗山;汤姆·理查德·帕克;谢尔盖·沙塔林 申请(专利权)人: 希里克萨有限公司
主分类号: G01D5/353 分类号: G01D5/353
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 周靖;郑霞
地址: 英国*** 国省代码: 英国;GB
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摘要: 描述了一种用于光纤系统的干涉仪装置及其使用方法。干涉仪包括光耦合器和光纤,光纤限定第一光路和第二光路。在第一光路和第二光路中传播的光被反射回光耦合器以产生干涉信号。第一、第二和第三干涉信号分量被引导朝向相应的第一、第二和第三光电探测器。第三光电探测器通过非互易的光学器件连接到光耦合器,并被配置成测量朝向输入光纤被引导回来的第三干涉信号分量的强度。也描述了在监测声扰动的应用中使用的方法以及校准方法。
搜索关键词: 光学 传感器 使用方法
【主权项】:
一种用于光纤系统的干涉仪装置,所述装置包括:光耦合器,其具有输入端口和与光纤耦合的第一端口和第二端口,所述光纤限定第一光路和第二光路;第一反射器和第二反射器,其分别被布置在所述第一光路和所述第二光路中以将在所述第一光路和所述第二光路中传播的光反射回所述光耦合器以产生干涉信号,其中所述光耦合器被配置成将第一干涉信号分量和第二干涉信号分量分别引导至第一探测器端口和第二探测器端口,并被配置成朝向所述输入端口引导第三干涉信号分量,以及所述装置包括用于在所述第一干涉信号分量、所述第二干涉信号分量和所述第三干涉信号分量之间引入相移的工具;第一光电探测器和第二光电探测器,其连接到所述光耦合器的所述第一探测器端口和所述第二探测器端口,且被配置成测量具有各自的相移的所述第一干涉信号分量和所述第二干涉信号分量的强度;以及其中所述装置包括第三光电探测器,所述第三光电探测器与非互易的光学器件连接,并且其被配置成测量朝向输入光纤被引导回来的所述第三干涉信号分量的强度。
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