[发明专利]位置和姿势校准方法及设备有效
| 申请号： | 201080033946.8 | 申请日： | 2010-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN102472609A | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 小竹大辅;内山晋二 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/26;G06T1/00;G06T19/20 |
| 代理公司： | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人： | 魏启学 |
| 地址： | 日本东京都大*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种位置和姿势测量设备，计算物体的二维图像的图像特征与所存储的物体的位置和姿势中的三维模型投影在所述二维图像上的投影图像之间的差。所述位置和姿势测量设备还计算三维坐标信息与所存储的物体的位置和姿势中的三维模型之间的差。所述位置和姿势测量设备然后转换第一差和/或第二差的尺度以使得所述第一差和所述第二差具有同等尺度并校正所存储的位置和姿势。 | ||
| 搜索关键词： | 位置 姿势 校准 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种位置和姿势校准方法，用于重复校正所存储的物体的位置和姿势，所述位置和姿势校准方法包括以下步骤：输入所述物体的二维图像；从所述二维图像检测图像特征；输入所述物体的表面的三维坐标信息；计算所检测到的图像特征与在基于所存储的物体的位置和姿势将所存储的三维模型投影至所述二维图像上时所获得的投影图像的投影特征之间的第一差异；计算所述三维坐标信息的三维特征与所存储的位置和姿势时的所述三维模型的模型特征之间的第二差异；转换所述第一差异和/或所述第二差异的尺度以使得所述第一差异和所述第二差异具有同等的尺度；以及基于转换了所述第一差异和所述第二差异中的至少一个的尺度之后的所述第一差异和所述第二差异，校正所存储的位置和姿势。
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