[发明专利]触摸检测有效
| 申请号： | 201080034238.6 | 申请日： | 2010-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN102576265A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | J.Y.汉;J.S.科林;D.E.斯洛伯丁 | 申请（专利权）人： | 感知像素股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/042 | 分类号： | G06F3/042 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 王冉 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种触屏装置(270)，包括辐射源(202)、配置为接收由辐射源发出的辐射(210)并且致使一些接收到的辐射在所述挠性波导内经历全内反射的挠性波导(204)、相对于所述挠性波导设置以便当挠性波导被物理变形时能使阻挠层接触挠性波导的阻挠层(206)，该阻挠层被配置为当所述挠性波导被物理变形以接触所述阻挠层以使在所述挠性波导内经历全内反射的一些接收到的辐射(A、B)在接触点从所述挠性波导逃逸时，致使在所述阻挠层和所述挠性波导之间的接触点处阻挠所接收到的辐射在所述挠性波导内的全内反射，以及被配置为检测至少一些从光学波导逃逸的辐射的成像传感器(208)。 | ||
| 搜索关键词： | 触摸 检测 | ||
【主权项】：
一种触屏装置，包括：辐射源；挠性波导，该挠性波导被配置为接收由所述辐射源发出的辐射并且引起至少一些接收到的辐射经历在所述挠性波导内的全内反射；阻挠层，该阻挠层相对于所述挠性波导设置，以便当所述挠性波导被物理变形时能使所述阻挠层接触所述挠性波导，所述阻挠层被配置为：当所述挠性波导被物理变形以接触所述阻挠层而使在所述挠性波导内经历全内反射的一些接收到的辐射在接触点从所述挠性波导逃逸时，致使在所述阻挠层和所述挠性波导之间的接触点处阻挠所接收到的辐射在所述挠性波导内的全内反射；以及成像传感器，该成像传感器被配置为检测至少一些从所述挠性波导逃逸的辐射。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于感知像素股份有限公司，未经感知像素股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080034238.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
