[发明专利]利用偏移探测器几何结构生成计算断层摄影图像的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201080034354.8 申请日: 2010-07-06
公开(公告)号: CN102598059A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: D·索厄德斯-埃梅德;C·诺尔特曼;E·汉西斯;M·格拉斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 根据本发明的一个方面,提供了一种利用具有偏移探测器几何结构的CT成像装置生成完整定位扫描的方法和设备。根据本发明的另一方面,提供了一种为具有偏移探测器几何结构的CT成像装置增大可重建视场的方法和设备。根据本发明的另一方面,提供了一种利用具有偏移探测器几何结构的CT成像装置进行感兴趣区域图像重建和整个身体成像的方法和设备。根据本发明的另一方面,提供了一种组合式x射线和SPECT成像系统。
搜索关键词: 利用 偏移 探测器 几何 结构 生成 计算 断层 摄影 图像 方法 设备
【主权项】:
一种利用具有探测器(104)的成像设备(200)生成对象(108)的图像的方法,包括如下步骤:利用与旋转中心(114)偏移开、处于第一偏移位置的所述探测器(104)收集关于所述对象(108)的第一成像数据;将所述探测器(104)移位到与所述旋转中心(114)偏移开的第二位置,其中,所述第二偏移位置与所述第一偏移位置不同;利用处于所述第二偏移位置的所述探测器(104)收集关于所述对象(108)的第二成像数据;以及使用所述第一成像数据和所述第二成像数据重建所述对象(108)的图像。
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