[发明专利]测试、验证和调试架构有效
| 申请号： | 201080035787.5 | 申请日： | 2010-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN103748562B | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | M·特罗布夫;K·蒂鲁瓦卢尔;C·普鲁维;C·罗文;D·格劳罗克;J·内耶罗;A·卡巴迪;T·戈夫;E·J·哈尔普林;K·乌达瓦塔;J·L·富;W·H·纪;V·杨;S·R·戈帕尔;Y·T·李;S·B·萨曼;K·基尔佩克;N·多布勒;N·Z·哈基姆;M·T·怀特;B·迈尔;B·彭纳;J·博德勒瓦尔;R·万德利奇;A·科扎楚克;J·格里利什;K·马克利;T·斯托里;L·麦康奈尔;L·库尔;M·卡塔利亚;R·默罕默德;T·郑;A·夏;R·萨哈 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/36 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 姜冰;朱海煜 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本文描述了用于提供测试、验证和调试架构的装置和方法。在目标级或基础级，硬件钩子(用于测试的设计或DFx)被设计到硅部件中并与之集成。控制器可提供对此类钩子的抽象访问，例如通过对硬件DFx的低级细节进行抽象的抽象层。此外，抽象层通过接口(例如API)向更高级软件/表示层提供服务、例程和数据结构，而更高级软件/表示层能够收集测试数据以用于验证和调试测试中单元/平台。此外，该架构可能提供对测试架构的层级式(多个级的)安全访问。另外，通过使用统一双向的测试访问端口，可以为平台简化对测试架构的物理访问，同时还可能准许远程访问，以执行测试中部分/平台的远程测试和调试。基本上，本文描述了用于电子部分、设备和平台的测试、验证和调试的完整测试架构堆栈。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 验证 调试 架构 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试的装置，包括：集成电路，包括适合于捕获与所述集成电路相关联的测试/踪迹信息的管芯上逻辑分析器ODLA；耦合到所述集成电路的存储器，所述存储器适合于被用作测试/踪迹缓冲区以保存所述ODLA所捕获的与所述集成电路相关联的所述测试/踪迹信息，其中所述测试/踪迹信息被存储在所述存储器中从一个或多个操作系统的视角来看是模糊的区中；一个或更多硬件测试钩子，适合于提供测试/踪迹信息；和抽象逻辑，适合于从软件层抽象所述一个或更多硬件测试钩子，并且向所述软件层提供接口，所述接口适合于提供与所述一个或更多硬件测试钩子相关联的服务。
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