[发明专利]自收集SERS基板无效
申请号: | 201080038530.5 | 申请日: | 2010-01-29 |
公开(公告)号: | CN102483355A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 大卫·法塔勒;李志勇 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
主分类号: | G01J3/44 | 分类号: | G01J3/44;G01N21/65 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 康泉;罗正云 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于表面增强拉曼光谱术的自收集基板(10),具有第一表面(10a)和与该第一表面相对的第二表面(10b),包括:支撑于支撑层(10″)上的波导层(10′),所述波导层与所述第一表面相关联,并且所述支撑层与所述第二表面相关联;以及多个金属纳米天线(14),设置在所述第一表面上且可操作地与所述多个开口相关联,以使被分析物(18)暴露于光中促使所述被分析物优先集聚在所述纳米天线的附近。提供一种用于使用基板(10)施行将被分析物(18)吸引到金属纳米天线(14)和表面增强拉曼光谱术中至少一种的系统(50)以及一种用于增大表面增强拉曼光谱术的信号的方法。 | ||
搜索关键词: | 收集 sers 基板 | ||
【主权项】:
一种用于表面增强拉曼光谱术的自收集基板(10),具有第一表面(10a)和与该第一表面相对的第二表面(10b),包括:支撑于支撑层(10″)上的波导层(10′),所述波导层与所述第一表面相关联,并且所述支撑层与所述第二表面相关联;以及多个金属纳米天线(14),设置在所述第一表面上,以使被分析物(18)暴露于光中促使所述被分析物优先集聚在所述纳米天线的附近。
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