[发明专利]在等离子体处理系统内操控等离子体约束的装置及方法有效
申请号: | 201080038535.8 | 申请日: | 2010-08-26 |
公开(公告)号: | CN102763197A | 公开(公告)日: | 2012-10-31 |
发明(设计)人: | 埃勒·Y·朱科;纽戈·希恩;金允尚;安德鲁·拜勒 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 在处理室内等离子体处理期间控制斜角蚀刻速率的装置。该装置包括功率源和气体分布系统。该装置还包括下电极,该下电极配置为至少支撑基板。该装置进一步包括位于该基板上方的顶部环形电极和位于该基板下方的底部环形电极。该装置还包括第一匹配装置,该第一匹配装置耦合到该顶部环形电极并配置为至少控制流经该顶部环形电极的电流以控制用于蚀刻至少部分基板顶部边缘的等离子体的量。该装置进一步包括第二匹配装置,该第二匹配装置配置为控制流经底部环形电极的电流以控制用于至少蚀刻至少部分基板底部边缘的等离子体的量。 | ||
搜索关键词: | 等离子体 处理 系统 操控 约束 装置 方法 | ||
【主权项】:
在等离子体处理系统的处理室内等离子体处理期间控制斜角蚀刻速率的装置,其包括:功率源;气体分布系统;下电极,其中所述下电极配置为至少在所述等离子体处理期间支撑基板;顶部环形电极,其位于所述基板上方;底部环形电极,其位于所述基板下方;第一匹配装置,其中所述第一匹配装置耦合到所述顶部环形电极,所述第一匹配装置配置为至少控制流经所述顶部环形电极的电流以控制用于蚀刻至少部分所述基板顶部边缘的等离子体的量;第二匹配装置,其中所述第二匹配装置配置为控制流经所述底部环形电极的所述电流以控制用于至少蚀刻至少部分所述基板底部边缘的等离子体的量。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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