[发明专利]具有印刷光探测器阵列的成像测量系统有效
| 申请号： | 201080039976.X | 申请日： | 2010-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN102483461A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | S·莱韦内;A·阿尔特曼;N·魏纳;C·R·龙达;E·I·哈斯克尔;D·M·德里兀 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20;G01T1/24;G01T1/29 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 提供了低成本大面积光探测器阵列。在第一实施例中，光探测器包括形成于单个厚层材料中的无机光电转换材料。在第二实施例中，光探测器包括若干薄层无机光电转换材料的层压结构，其组合厚度足够大，从而以高的探测器量子效率吸收进入的X射线。在第三实施例中，光探测器包括几层无机或有机光电转换材料的层压结构，其中每层具有复合闪烁体涂层。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 印刷 探测器 阵列 成像 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种成像系统，包括：辐射源，其绕着所述成像系统的中心z轴旋转以执行成像扫描；以及无机光探测器阵列，其包括布置于弯曲支撑上的若干分立无机光探测器，使得每排无机光探测器沿着所述弯曲支撑的曲线对齐，且每列无机光探测器平行于所述成像系统的所述中心z轴对齐。
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