[发明专利]用于识别物体之材料的方法和装置

摘要

本发明涉及用于识别物体之材料的装置，它包含：X光子源(10)和光谱检测器(11)，光子源以入射光束(12)来照射物体(100)，且检测器测量在入射光束在材料的一体积(δV)中散射之后所产生的一反向散射光束(13)的量值和反向散射光束中X光子的能量，入射光束和反向散射光束形成一散射角(θ)；用于调整光子源、检测器与物体之间的位置以使体积处于不同的深度但角度不变的装置(101)，用于处理两个位置中的两个量值和一个位置中的能量并计算衰减因数(μmatériau(E0，E1，ε))的装置(102.a)，用于估计材料密度(p)的装置(102.b)。

主权项

一种用于识别物体之材料的方法，所述材料被赋予一层级i(i为整数)，若材料在表面，则i等于一，且若它被埋置在i‑1层下，则i大于一，其中：a)以一准直X光子源(10)所产生的一入射X光子束(12)来照射物体(100)的一大体上，至少局部为平面的表面；b)使用一准直光谱检测器(11)沿一特定散射角(θ)测量在该入射X光子束于第i层材料的第一检验体积中散射之后所产生的一反向散射X光子束(13)中的X光子的第一通量，该第一检验体积位于第i层材料中的第一深度；c)使用所述准直光谱检测器沿同一特定散射角测量在该入射X光子束于第i层材料的第二检验体积中散射之后所产生的一反向散射X光子束中的X光子的第二通量，该第二检验体积位于第i层材料中的第二深度；d)使用X光子的两个通量测量值(Xi1(E1)，Xi2(E1))来计算组合衰减系数μ’matériau.i(E0，E1，ε)，其中E0是入射X光子束中X光子的能量，且E1是沿特定散射角的反向散射X光子束中X光子的能量，组合衰减系数包含两个通量(Xi1(E1)，Xi2(E1))之比率的自然对数，ε是使得ε＝li’1/li1＝li’2/li2的比率，li1与li2分别是入射X光子束在第i层材料中直到第一检验体积和第二检验体积的传播距离，li’1与li’2分别是反向散射X光子束自第一检验体积和第二检验体积起在第i层材料中的传播距离；e)定义组合衰减系数μ’matériau.i(E0，E1，ε)在反向散射X光子束中X光子的一特定能量范围上的一平均值μ’mean；f)由组合衰减系数的平均值来估计第i层材料的密度ρ。