[发明专利]使用干涉法的用于二维光程分布的绝对测量的装置有效
| 申请号： | 201080042357.6 | 申请日： | 2010-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN102656420A | 公开（公告）日： | 2012-09-05 |
| 发明（设计）人： | J·M·亨特利;P·D·鲁伊兹;T·威查纳尔科 | 申请（专利权）人： | 拉夫伯勒大学 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇 |
| 地址： | 英国莱*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 一种用于二维光程分布的绝对测量的装置，包括：光源(4)，用于以具有多个波长的光照明物体(26)；干涉仪(12)，用于形成物体的至少一部分的图像，该图像包括宽带干涉图；高光谱成像器(30)，与干涉仪光学连接，用于将宽带干涉图光谱地分成多个窄带二维干涉图(72，74，76)；寄存器(38)，用于空间地记录窄带干涉图；提取器，用于从每个窄带干涉图中相应的像素中提取一维光强信号；以及计算器(100)，用于针对对象上的每一点，根据与该点关联的一维光强信号计算出频率。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 干涉 用于 二维 光程 分布 绝对 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种用于二维光程分布的绝对测量的装置，包括：光源，用于以具有多个波长的光照明物体；干涉仪，用于形成物体的至少一部分的图像，该图像包括宽带干涉图；高光谱成像器，与干涉仪光学连接，用于将宽带干涉图光谱地分成多个窄带二维干涉图；寄存器，用于空间地记录窄带干涉图；提取器，用于从每个窄带干涉图中相应的像素中提取一维光强信号；以及计算器，用于针对对象上的每一点，根据与该点关联的一维光强信号计算出频率。
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