[发明专利]具有成像光学元件的传感器设备有效
| 申请号： | 201080042956.8 | 申请日： | 2010-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN102713571A | 公开（公告）日： | 2012-10-03 |
| 发明（设计）人： | J·A·H·M·卡尔曼;J·B·A·D·范佐恩 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55;G01N21/64;G02B21/36 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 陈松涛;韩宏 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于检测结合到载体(11)的结合表面(12)的颗粒(MP)的方法和传感器设备(100)。所述传感器设备(100)包括用于将结合的颗粒(MP)成像于图像传感器(53)上的显微镜(50)。为了增加显微镜(50)的空间分辨率，提供能够使载体(11)相对于图像传感器(53)产生位移的位移单元(60，70，80)。因而能够以高精确度确定结合的颗粒(MP)与所述结合表面(12)的距离和/或对力做出反应的其横向位移。这允许区分经由较小目标颗粒结合到结合表面(12)的大磁性颗粒(MP)的特定结合与非特定直接结合。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 成像 光学 元件 传感器 设备 | ||
【主权项】：
一种传感器设备(100)，用于检测位于载体(11)的结合表面(12)处的颗粒(MP，MP′)，包括：a)具有图像传感器(53)的显微镜(50)，颗粒(MP，MP′)被成像于所述图像传感器(53)上；b)位移单元(60，70，80)，用于可控地使所述图像传感器(53)相对于所述载体(11)产生位移；c)评估单元(32)，用于评估在所述载体(11)与所述图像传感器(53)的不同相对位移处生成的图像。
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