[发明专利]获取流变学特性值的探测器及方法有效

专利信息
申请号: 201080045325.1 申请日: 2010-10-07
公开(公告)号: CN102713560A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 丹尼斯·博普雷;热罗姆·沙普德莱纳;弗雷德里克·沙普德莱纳 申请(专利权)人: IBB流变学有限公司
主分类号: G01N11/10 分类号: G01N11/10;B28C5/42
代理公司: 上海翰鸿律师事务所 31246 代理人: 李佳铭
地址: 加拿大*** 国省代码: 加拿大;CA
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摘要: 探测器可以包括一个底部和一个阻抗元件,该阻抗元件从底部延伸,并且,当阻抗元件被流变学物质浸没并且在其中运动时,该流变学物质施加一阻力在阻抗元件上。利用在低速范围和高速范围内的阻力的指示值,获得流变学特性。
搜索关键词: 获取 流变学 特性 探测器 方法
【主权项】:
一种流变学探测设备(unit),用于围绕自身轴旋转并且内部含有具有流变性质的物质的圆柱形容器内,该流变学探测器设备包括:一能够安装在圆柱形容器壁上的底部;一阻抗元件,当所述底部被安装在所述圆柱形容器上时,所述阻抗元件沿着径向从所述底部延伸,并且当所述阻抗元件由于所述圆柱形容器的旋转而被浸没并且在流变学的物质中移动之时,流变学的物质在所述阻抗元件之上施加一个压阻(resistance pressure);一力传感器,其适合于在给定的时间点提供力值指示压阻;一速度传感器,其适合于提供速度值指示速度,当所述阻抗元件在给定时间点移动至所述物质,在低速范围和高速范围时;一电源;以及一发射器。
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