[发明专利]用于确定物品及其表面的特性的测量仪器和方法

摘要

一种用于通过光辐射来确定物体的表面的特征的测量装置，其中测量装置包括光辐射源以及接收从正在测量的表面反射的辐射的检测器。此外，测量装置包括发射光辐射处理单元，调整该发射光辐射处理单元，以将由光源发射的光辐射分成分离的波长，并在与正在测量的表面的法向不同的方向上将所述分离的波长引导至正在测量的物体，从而使所述波长中的至少最短波长和最长波长在正在测量的表面的法向方向上聚焦在所测量的物体的表面的不同半部和不同高度上。另外，测量装置包括反射光辐射处理单元，调整该反射光辐射处理单元，以至少在镜面反射的方向上接收从所测量的物体反射的光辐射，并将接收的光辐射引导至所述检测器，该镜面反射的方向不同于正在测量的表面的法向。再此外，调整该测量装置，以对由检测器产生的并与聚焦在检测器上的辐射的强度成比例的电信号进行分析，并进一步地以基于其波长的强度来确定所测量的物体的表面光泽(光泽度)和/或厚度特征特性，该波长的焦点位于所测量的表面上，并且该波长是镜面几何体系中的从该点反射至检测器的最强波长。

主权项

一种用于通过光辐射来确定所测量的物体的一个以上的特性的测量装置，其中，所述测量装置包括：至少一个光辐射源，用于将光辐射发射至所测量的物体，以及至少一个检测器，用于接收从所测量的物体反射的辐射并用于产生与所述辐射的强度成比例的电信号，其特征在于，所述测量装置还包括：(被发射的)光辐射处理单元，调整所述被发射的光辐射处理单元，以将由所述光辐射源发射的光辐射分成分离的波长，并在与正在测量的表面的法向不同的方向上将所述分离的波长引导至所测量的物体，从而使所述波长中的至少最短波长和最长波长在正在测量的表面的法向方向上聚焦在所测量的物体的表面的不同半部和不同高度上，(被反射的)光辐射处理单元，调整所述被反射的光辐射处理单元，以至少在镜面反射的方向上接收从所测量的物体反射的光辐射，并将接收的光辐射引导至所述检测器，所述镜面反射的方向不同于正在测量的表面的法向，并且调整所述测量装置，以对由所述检测器产生的并与聚焦在所述检测器上的辐射的强度成比例的电信号进行分析，并进一步地基于其波长的强度来确定描述所测量的物体的表面光泽的至少一个特征，例如光泽度，所述波长的焦点位于所测量的表面上，并且因此，所述波长作为镜面几何体系中的最强波长从该点反射至所述检测器。