[发明专利]可侦测多触点的触控面板以及其装置的多触点侦测方法无效

专利信息
申请号: 201080047242.6 申请日: 2010-07-09
公开(公告)号: CN102713800A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 李芳远;张世银;洪在锡;吴晓鸰 申请(专利权)人: 艾勒博科技股份有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/03
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 韩明星
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供一种能够侦测多触点的触控面板及其多触点的侦测方法。由于所述触控面板及其多触点的侦测方法可使用侦测时间的变化来量测并储存取决于接触对象的触碰位置而变化的多个第一及第二触控垫的每一电阻以及所述接触对象的电容,以判定所述接触对象的实际触碰位置,因此即使在出现鬼影图案时亦有可能判定所述实际触碰位置。
搜索关键词: 侦测 触点 面板 及其 装置 方法
【主权项】:
一种触控面板,其特征在于,包括:面板部分,包含沿着第一方向上延伸的多个第一触控垫,及沿着垂直于所述第一方向的第二方向延伸的多个第二触控垫;以及触控传感器部分,分别连接至所述多个第一及第二触控垫的一端,测量并储存取决于接触对象的触碰位置而变化的所述多个第一及第二触控垫的各个电阻值与所述接触对象的电容值,以及依据所述电阻值和所述电容值而产生的侦测时间,并判定所述接触对象的所述触碰位置,其中,当根据所储存的多个侦测时间中对应于所述多个第一触控垫的所述侦测时间及对应于所述多个第二触控垫的所述侦测时间来判定出多个触碰位置时,所述触控传感器部分比较显示所述触碰的所述侦测时间的相对大小,以判定实际触碰位置。
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