[发明专利]用于控制钻进过程的磁测距系统无效
申请号: | 201080049026.5 | 申请日: | 2010-10-29 |
公开(公告)号: | CN102782250A | 公开(公告)日: | 2012-11-14 |
发明(设计)人: | J·哈伦德巴克;M·弗兰克 | 申请(专利权)人: | 韦尔泰克有限公司 |
主分类号: | E21B47/022 | 分类号: | E21B47/022;G01V3/26 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 张亚非;杨晓光 |
地址: | 丹麦阿*** | 国省代码: | 丹麦;DK |
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摘要: | 本发明涉及一种用于控制井下钻进过程的测距系统(1),该测距系统具有纵向方向且包括:用于钻第一钻孔(3)的钻进工具(2),钻进工具具有工具轴(4)且包括电磁体形式的磁场源(5),该磁场源产生磁场(6)且具有基本上与工具轴平行的磁场源轴(7)。而且,测距系统包括布置在第二钻孔(9)中的感测工具(8),用于通过至少两个传感器单元(10)测量磁场,所述传感器单元被布置为沿着感测工具的轴彼此相距一距离(D)。 | ||
搜索关键词: | 用于 控制 钻进 过程 测距 系统 | ||
【主权项】:
一种用于控制井下钻进过程的测距系统(1),该测距系统具有纵向方向且包括:‑用于钻第一钻孔(3)的钻进工具(2),该钻进工具具有工具轴(4)且包括电磁体形式的磁场源(5),该磁场源(5)产生磁场(6)且具有基本上与工具轴平行的磁场源轴(7),以及‑布置在第二钻孔(9)中的感测工具(8),用于通过至少两个传感器单元(10)测量磁场,其中所述传感器单元被布置为沿着感测工具的轴彼此相距一距离(D)。
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