[发明专利]检测带电粒子的检测装置、检测带电粒子的方法以及质谱仪有效
| 申请号： | 201080049080.X | 申请日： | 2010-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN102782800A | 公开（公告）日： | 2012-11-14 |
| 发明（设计）人： | A·马卡洛夫;A·詹纳考普洛斯 | 申请（专利权）人： | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/02 | 分类号： | H01J49/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 张欣 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于检测带电粒子的检测装置，该检测装置包括：一个带电粒子检测器，用于接收并检测进入的带电粒子或由这些进入的带电粒子产生的次级带电粒子；一个光子产生器，用于响应于接收到与该带电粒子检测器所接收并检测的相同的、这些进入的带电粒子或由这些进入的带电粒子产生的次级带电粒子中的至少一些而产生光子；以及一个光子检测器，用于检测该光子产生器所产生的光子。还提供了包括该检测装置的一种质谱仪、该检测装置在TOF质谱法中的用途以及改进一种TOF质谱仪的动态检测范围的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 带电 粒子 装置 方法 以及 质谱仪 | ||
【主权项】：
一种用于检测带电粒子的检测装置，该检测装置包括：一个带电粒子检测器，用于接收并检测进入的带电粒子或由这些进入的带电粒子产生的次级带电粒子；一个光子产生器，用于响应于接收到与该带电粒子检测器所接收并检测的相同的、这些进入的带电粒子或由这些进入的带电粒子产生的次级带电粒子中的至少一些而产生光子；以及一个光子检测器，用于检测该光子产生器所产生的光子。
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