[发明专利]用于形成低温多晶硅膜的装置和方法有效
申请号: | 201080050013.X | 申请日: | 2010-10-14 |
公开(公告)号: | CN102714149A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 梶山康一;滨野邦幸;水村通伸 | 申请(专利权)人: | 株式会社V技术 |
主分类号: | H01L21/268 | 分类号: | H01L21/268;H01L21/20;H01L21/336;H01L29/786 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 林毅斌;林森 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种形成设备和形成方法,其能生产不经历晶粒尺寸波动并且具有均匀的晶粒尺寸的低温多晶硅膜。形成掩模,使得激光束阻断区域和激光束透射区域以网状图案排列,以便彼此不相邻。通过掩模,利用微透镜,使用激光束照射预定的通道区形成区域。使用透过透射区域的激光束照射a-Si:H膜,以引起经照射的部分退火,从而引起多晶化。随后,将掩模移除,并且使用激光束照射预定的通道区形成区域的整个表面。在其中已发生多晶化的区域,熔点升高,并且不发生熔融。在仍为非晶态的区域中,熔融并固化,从而引起多晶化。在这样生产的多晶硅膜中,晶粒的尺寸根据阻光区和透光区控制并落入具体范围内。 | ||
搜索关键词: | 用于 形成 低温 多晶 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种用于形成低温多晶硅膜的装置,所述装置包括:一维或二维排列的多个微透镜;激光产生源;光导部分,用于将激光从激光产生源引导至所述微透镜,以通过所述微透镜将所述激光在非晶态硅膜上聚光;和为每一个微透镜排列的多个掩模,其中用于透射所述激光的多个透射区和用于阻断所述激光的多个阻光区在所述掩模上为二维排列,并且在一个方向交替布置,使得透射区彼此不相邻且阻光区彼此不相邻。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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