[发明专利]用于球栅阵列器件的对准与检查的系统和方法有效
| 申请号： | 201080050575.4 | 申请日： | 2010-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN102656606A | 公开（公告）日： | 2012-09-05 |
| 发明（设计）人： | X·王;L·王 | 申请（专利权）人： | 考戈奈克斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 刘佳 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供了用于高速地对准并检查具有非均匀特征的部件(比如BGA器件)的系统和方法。在机器视觉系统的训练期间，少量的对准效果显著的团块连同用于挑选粒度的一定量的几何分析一起被确定。此外，在训练期间，多个球可以与多个组相关联，每一个组可以具有其自己的一组检查参数。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 阵列 器件 对准 检查 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于对准球栅阵列器件的方法，所述方法包括：从所述器件的几何模型中提取一个或多个团块；识别一个或多个对准效果显著的团块；以及使用所述对准效果显著的团块来产生对准掩模。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于考戈奈克斯股份有限公司，未经考戈奈克斯股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080050575.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：折叠式光衰减器
- 下一篇：一种基于无线传输的降雨量监测系统
