[发明专利]采用导电贯穿基板通路的集成去耦电容器有效

专利信息
申请号: 201080050627.8 申请日: 2010-11-09
公开(公告)号: CN102598263A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: M·F·麦卡利斯特;M·J·沙皮罗;金兑洪;E·J·斯普罗吉斯 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/70
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邱军
地址: 美国纽*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 半导体基板(10)中的电容器(180)采用导电贯穿基板通路(TSV)(80)作为内部电极,并采用柱状掺杂半导体区域作为外部电极。电容器(80)在小的区域内提供大的去耦电容,并且不影响电路密度或Si 3D结构设计。附加的导电TSV可设置在半导体基板(10)中以提供对电源的电连接以及通过其的信号传输。与具有可比的电容的传统电容器阵列相比,电容器(180)具有更低的电感系数,从而能够减小堆叠的半导体芯片的电源系统中的高频噪声。
搜索关键词: 采用 导电 贯穿 通路 集成 电容器
【主权项】:
一种包括半导体芯片的半导体结构,其中所述半导体芯片包括:半导体基板(10);至少一个电容器(180),埋入所述半导体基板(10)中;以及至少一个横向绝缘的导电贯穿基板连接结构(182),其中所述至少一个电容器(180)的每一个都包括:内部电极,包括导电贯穿基板通路(TSV)结构(80);节点电介质(70),横向接触且横向围绕所述内部电极;以及外部电极(60),横向接触且横向围绕所述节点电介质的一部分。
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