[发明专利]光拾取装置无效

专利信息
申请号: 201080052638.X 申请日: 2010-11-18
公开(公告)号: CN102667930A 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: 堀田彻;川崎良一 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09;G11B7/1275;G11B7/13;G11B7/133;G11B7/22
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种光拾取装置,其能够对由设在双波长激光二极管上的第1激光元件与第2激光元件之间的位置偏移为起因而产生的、设于光检测器的受光部的位置偏移进行修正。其中,该光拾取装置具有光检测器,该光检测器在同一个半导体基板上形成有供自第1光盘的信号记录层反射的返回光照射的第1受光部和供自第2光盘的信号记录层反射的返回光照射的第2受光部(8D),利用第1受光部调整上述光检测器的固定位置,并且在第2受光部(8D)上形成有用于对第1受光部与第2受光部(8D)的位置偏移进行电修正的位置偏移修正用受光部。
搜索关键词: 拾取 装置
【主权项】:
一种光拾取装置,其包括:双波长激光二极管,其在同一个封装体内设有用于放射第1激光的第1激光元件和用于放射波长小于该第1激光波长的第2激光的第2激光元件;物镜,其供自该双波长激光二极管放射的第1激光和第2激光入射并且使第1激光会聚到设于第1光盘的信号记录层上,并且使第2激光会聚到设于与上述第1光盘格式不同的第2光盘的信号记录层上;其特征在于,该光拾取装置具有光检测器,该光检测器在同一个半导体基板上形成有供自第1光盘的信号记录层反射的返回光照射的第1受光部和供自第2光盘的信号记录层反射的返回光照射的第2受光部,利用第1受光部调整上述光检测器的固定位置,并且在第2受光部上形成有用于对第1受光部与第2受光部的位置偏移进行电修正的位置偏移修正用受光部。
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