[发明专利]用于角度测量设备的角度测量方法和校准方法以及角度测量设备有效
申请号: | 201080053603.8 | 申请日: | 2010-11-25 |
公开(公告)号: | CN102686982A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 海因茨·利普纳;U·沃金格;克努特·西尔克斯 | 申请(专利权)人: | 莱卡地球系统公开股份有限公司 |
主分类号: | G01D5/244 | 分类号: | G01D5/244 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 党晓林;王小东 |
地址: | 瑞士海*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | 一种用于角度测量设备的无参考系地执行的校准方法,所述角度测量设备具有:编码载体(2),其带有绝对式位置编码;以及至少2个读取头(1a和1b),这些读取头分别具有固定的已知的角位置(4),这些角位置相对彼此具有一角距,所述角距尤其是大于50度,并且在各个相邻读取头(1a,1b,1c,1d)之间的角距中的至少一个不同于其余角距,这些读取头分别至少部分地检测位置编码,使得能够确定各个读取头相对于所述编码载体的绝对角位置值,其中,所述编码载体能够相对于所述读取头转动(3),因此能够占据编码载体的相对于读取头的不同角位,所述校准方法包括如下步骤:确定在一角位处的这些读取头(1a和1b)的角位置值(21);通过将这些读取头的角位置值之差与这些读取头(1a和1b)已知的角位置(4)相互比较来确定角度误差;针对多个变化的角位反复确定角位置值和角度误差;以及执行数学分析方法,该数学分析方法包括:确定用于量化角度误差的数学函数的参数,并且确定校准参数,作为用于量化的数学函数的参数、或者作为根据所述参数导出的修正表或编码表。 | ||
搜索关键词: | 用于 角度 测量 设备 测量方法 校准 方法 以及 | ||
【主权项】:
一种用于角度测量设备(7)的、能够以无参考系的方式执行的校准方法,所述角度测量设备具有:■编码载体(2),其带有绝对式位置编码,以及■至少N≥2个读取头(1a,1b,1c,1d),这些读取头分别具有固定的已知的角位置(4),这些读取头相对彼此具有一角距,所述角距尤其是大于50度、例如70度到180度,优选为140度到170度、例如150度,并且这些读取头分别至少部分地检测所述位置编码,使得能够确定相应的读取头相对于所述编码载体的绝对角位置值,其中,所述编码载体(2)能够相对于所述读取头(1a、1b、1c、1d)转动,因此能够占据所述编码载体的相对于所述读取头的不同角位,所述校准方法包括如下步骤:■在一角位处确定这些读取头(1a、1b、1c、1d)的角位置值(21),■通过将这些读取头(1a、1b、1c、1d)的角位置值之差与这些读取头(1a、1b、1c、1d)已知的角位置(4)相互比较来确定角度误差(22),■针对多个变化的角位重复确定角位置值(23)和角度误差,以及■执行数学分析方法(24),其包括:○确定用于量化角度误差的数学函数的参数,并且确定校准参数(40),作为用于量化的数学函数的参数、或者作为根据所述参数导出的修正表或编码表。
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