[发明专利]X射线成像装置和X射线成像方法无效
| 申请号： | 201080054070.5 | 申请日： | 2010-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN102639059A | 公开（公告）日： | 2012-08-15 |
| 发明（设计）人： | 向出大平;福田一德;渡边壮俊;高田一广;野间敬 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 康建忠 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | X射线成像装置和X射线成像方法可减轻散射的X射线对于获得的图像的影响。通过使用分离元件和使X射线扫描速度与检测单元的图像获取速度同步化的曝光控制单元，计算检测物体的微分相位衬度图像或相位衬度图像。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 成像 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线成像装置，包括：在空间上分离从X射线产生单元产生的X射线的分离元件；检测通过分离元件分离的并透过检测物体的分离X射线的各强度的检测单元；移动X射线产生单元、分离元件、检测物体或检测单元的传输单元；通过传输单元控制照射到检测物体上的X射线的扫描时间的传输控制单元；使X射线的扫描时间与检测单元的图像获取时间同步化的曝光控制单元；以及从通过检测单元获取的信息计算检测物体的微分相位衬度图像或相位衬度图像的计算单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社，未经佳能株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080054070.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
