[发明专利]掺杂氮的氧化镁内的电阻开关有效

专利信息
申请号: 201080055451.5 申请日: 2010-09-21
公开(公告)号: CN102668085A 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: S.S.帕金;M.G.萨曼特;杨政翰;蒋信 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L45/00;G11C13/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邸万奎
地址: 美国纽*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 掺杂氮的氧化镁(MgO)绝缘层呈现电压控制的电阻状态,如,高电阻状态和低电阻状态。100nm级的图案化纳米装置显示高的可再现开关特性。通过增加氮浓度,可有系统地降低此类装置在两个电阻电平之间切换的电压电平。同样地,通过改变氮浓度,可改变高电阻状态的电阻,和通过改变氮浓度几个百分比,可减少高电阻状态的电阻若干数量级。另一方面,低电阻状态的电阻则几乎不受氮掺杂程度的影响。通过限制在SET(设定)过程期间通过的电流,可在广泛范围中改变单一Mg50O50-xNx层装置的电阻。因而可建构相关的数据存储装置。
搜索关键词: 掺杂 氧化镁 电阻 开关
【主权项】:
一种装置,包含:电阻开关组件阵列,所述电阻开关组件阵列的每个电阻开关组件与字线和位线电连通,所述电阻开关组件阵列中的每个电阻开关组件包括掺杂N的MgO层,其N含量是该层的至少0.1原子百分比。
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