[发明专利]分析物测量设备和方法无效
| 申请号： | 201080058265.7 | 申请日： | 2010-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN102667481A | 公开（公告）日： | 2012-09-12 |
| 发明（设计）人： | W·U·迪特默;T·H·埃弗斯;D·W·C·德克斯;M·H·黑夫蒂;J·L·M·维瑟斯;M·F·W·C·马滕斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/543 | 分类号： | G01N33/543 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 过晓东 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本文公开一种用于测量样品中的靶分子的设备。所述设备包括：包含直径大于100nm的磁性标记(1)的部分、用于特异性结合所述部分的结合表面(12)、一定量结合至所述表面且指示所述样品中靶分子的所述部分的、用于检测结合至所述表面的所述部分的量的检测部件(3131’)、以及用于减少所述样品中各自部分的磁性标记的聚集的盐(51)。所述设备优选还包含用于将所述磁性标记吸引至所述结合表面的磁场发生器(41)。本文还公开一种测量样品的中的靶分子的方法以及用于所述设备的一次性柱筒。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 测量 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种配置为接受样品的装置，所述装置包括：指示所述样品中分析物的存在的部分，所述部分包含直径大于100纳米的磁性和/或可磁化标记(1)，并且其中所述装置还包含一定量的盐(51)，所述盐用于溶于所述样品中并由此减少所述部分在与所述样品接触时的聚集。
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