[发明专利]用于处理光电体积描记信号的方法和装置有效
申请号: | 201080058692.5 | 申请日: | 2010-11-24 |
公开(公告)号: | CN102686151A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | J·米尔施特夫 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | A61B5/024 | 分类号: | A61B5/024 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本公开涉及用于处理光电体积描记信号,以支持临床情境下分析光电体积描记信号的方法和装置的领域。计算在一定时间段内采集的光电体积描记信号的导数。分析并在x-y图解中显示作为所采集的光电体积描记信号的函数的所采集的光电体积描记信号对时间的导数,或反之进行。 | ||
搜索关键词: | 用于 处理 光电 体积 信号 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种处理从受检者取回的光电体积描记信号的方法,所述方法包括如下步骤:‑在一定时间段内采集所述光电体积描记信号;‑计算所采集的光电体积描记信号对时间的导数;以及‑分析作为所采集的光电体积描记信号的函数的所采集的光电体积描记信号的所述导数或反之进行。
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