[发明专利]检测器、用于制造检测器的方法和成像装置无效
| 申请号： | 201080059488.5 | 申请日： | 2010-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN102695968A | 公开（公告）日： | 2012-09-26 |
| 发明（设计）人： | 里斯托·奥拉瓦;汤姆·斯库尔曼 | 申请（专利权）人： | 芬菲斯公司 |
| 主分类号： | G01T3/08 | 分类号： | G01T3/08;H01L31/115;H01L31/118 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 余朦;姚志远 |
| 地址： | 芬兰*** | 国省代码： | 芬兰;FI |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于检测中子的检测器（100）包括中子反应材料（102），所述中子反应材料适配成与待检测中子相互作用并针对与中子的所述相互作用释放电离辐射反应产物。所述检测器还包括第一半导体元件（101），所述第一半导体元件与所述中子反应材料（102）耦合并适配成与所述电离辐射反应产物相互作用并提供与所述电离辐射反应产物的能量成比例的电荷。此外，电极布置成与所述第一半导体元件（101）连接，用于提供用来收集电荷的电荷收集区域（106），并且提供与所述被收集的电荷成比例的电可读信号。在所述检测器（100）中，所述中子反应材料布置为让待检测的入射中子与基本上最接近所述电荷收集区域（106、110）的部分内的中子反应材料（102）相互作用，其中所述电荷收集区域由与所述中子反应材料耦合的所述第一半导体元件（101）中的电极提供。 | ||
| 搜索关键词： | 检测器 用于 制造 方法 成像 装置 | ||
【主权项】：
一种用于检测中子的检测器，其中所述检测器包括：中子反应材料，所述中子反应材料用于与入射在其上的待检测中子相互作用，以响应与所述入射中子的相互作用而释放电离辐射反应产物；第一半导体元件，所述第一半导体元件布置成与所述电离辐射反应产物相互作用，从而与所述电离辐射反应产物的能量成比例地提供电荷；和所述第一半导体元件配置有电极，所述电极用于提供电荷收集区域以收集所述电荷并提供与所述被收集的电荷成比例的可读电信号，其中所述中子反应材料布置在所述检测器中，基本上与所述电极位于所述第一半导电元件的同一侧。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于芬菲斯公司，未经芬菲斯公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080059488.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：中空滚压成型内肋增强缠绕波纹管及制造工艺
- 下一篇：电源管理装置
