[发明专利]用于核磁共振中计算局部比能量吸收率（SAR）的方法有效
| 申请号： | 201080060095.6 | 申请日： | 2010-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN102695963A | 公开（公告）日： | 2012-09-26 |
| 发明（设计）人： | T·R·福格特;U·卡切尔;H·H·霍曼 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/28 | 分类号： | G01R33/28;G01R33/56;G01R33/58 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种基于对象的分割几何结构的电学参数和质量密度以及射频（RF）天线的磁场矢量分布计算局部比能量吸收率（SAR）的方法。电学参数和质量密度的值是预定值，而磁场矢量分布是通过基于磁共振（MR）扫描的磁场映射方法估计的。基于磁共振扫描的磁场映射方法可以是Bi映射方法。本发明还涉及一种磁共振系统，利用其能够在相对短时间段内计算SAR。本发明还涉及一种计算机程序，包括用于根据上述方法计算局部比能量吸收率（SAR）的指令。上述方法、系统和程序中使用的SAR计算是在相对短时间段内完成的，因此在临床环境中是可行的。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 核磁共振 计算 局部 能量 吸收率 sar 方法 | ||
【主权项】：
一种用于基于对象的分割几何结构的电学参数和质量密度以及射频（RF）天线（16）的磁场矢量分布计算局部比能量吸收率（SAR）的方法，其特征在于，所述电学参数和所述质量密度的值是预定值，而所述磁场矢量分布是通过基于磁共振（MR）扫描的磁场映射方法来估计的。
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