[发明专利]第III族氮化物外延层压基板有效
申请号: | 201080060505.7 | 申请日: | 2010-11-04 |
公开(公告)号: | CN102714162A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 生田哲也;清水成;柴田智彦 | 申请(专利权)人: | 同和电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/338 | 分类号: | H01L21/338;H01L21/205;H01L29/201;H01L29/778;H01L29/812 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 公开一种外延层压的第III族氮化物基板,其中可改进第III族氮化物半导体的结晶性而不增加基板翘曲量。具体公开一种包括以下的外延层压的第III族氮化物基板:基板、在基板上形成的缓冲层和通过在缓冲层上外延生长第III族氮化物层而在缓冲层上形成的主层压体。所述基板特征在于:缓冲层包括与基板接触的初始膜生长层、在初始膜生长层上形成的第一超晶格层压体和在第一超晶格层压体上形成的第二超晶格层压体,所述第一超晶格层压体通过以交替方式层压5-20层包括AlN材料的第一AlN层和相同数量的包括GaN材料的第二GaN层来生产,一对所述第一AlN层和所述第二GaN层具有小于44nm的厚度,所述第二超晶格层压体通过以交替方式层压多组包括AlN材料或AlGaN材料的第一层和具有与第一层带隙不同带隙的包括AlGaN材料的第二层来生产。 | ||
搜索关键词: | iii 氮化物 外延 层压 | ||
【主权项】:
一种第III族氮化物外延层压基板,其包括:基板;在所述基板上形成的缓冲层;和通过在所述缓冲层上外延生长第III族氮化物层形成的主层压体,其中所述缓冲层包括与所述基板接触的初始生长层,在所述初始生长层上形成的第一超晶格层压体,和在所述第一超晶格层压体上形成的第二超晶格层压体,所述第一超晶格层压体包括5‑20组由AlN材料制成的第一AlN层和由GaN材料制成的第二GaN层,所述第一AlN层和所述第二GaN层交替堆叠,并且每一组所述第一AlN层和所述第二GaN层具有小于44nm的厚度,所述第二超晶格层压体包括多组由AlN材料或AlGaN材料制成的第一层和具有与所述第一层不同带隙的由AlGaN材料制成的第二层,所述第一层和所述第二层交替堆叠。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造