[发明专利]用于以光谱传感器获得的X射线光谱的迭加现象的校准方法有效
| 申请号： | 201080061692.0 | 申请日： | 2010-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN102713678A | 公开（公告）日： | 2012-10-03 |
| 发明（设计）人： | 尚·瑞科;安德烈·布莱姆比拉;尚马克·鼎田;弗罗伦特·穆盖尔 | 申请（专利权）人： | 法国原子能与替代能委员会 |
| 主分类号： | G01T1/17 | 分类号： | G01T1/17 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本发明揭露一种用以校准X射线的测量光谱(Spmes)的方法，其特征在于，根据若干个通道Nc、每个通道i对应Ei与Ei+ΔEi之间的能量范围，所述方法包含决定方程式δti，j(k)，所述方程式δti，j(k)决定分离与能量Ei及Ej的两交互作用的时间偏移Δt区间的大小，两交互作用的迭加，产生可被侦测能量值Ek；从方程式δti，j(k)，对应能量Ei及Ej的分别两交互作用的迭加，在通道k内被计数的事件的所述概率方程式Pi，j(k)；从概率方程式Pi，j(k)，决定迭加光谱(Emp)，迭加光谱为仅单独对应迭加的测量光谱(Spmes)的部分；以及通过测量光谱(Spmes)及迭加光谱(Emp)的差值，计算或估计至少一第一校准光谱(Spcor)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光谱 传感器 获得 射线 现象 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种用以校准X射线的测量光谱(Spmes)的方法，其特征在于，根据若干个通道Nc，每个通道i对应Ei与Ei+ΔEi之间的能量范围，包含：‑决定方程式δti，j(k)，所述方程式δti，j(k)决定分离与能量Ei及Ej的两交互作用的时间偏移Δt区间的大小，所述两交互作用的迭加产生侦测能量值Ek；‑从所述方程式δti，j(k)，决定对应能量Ei及Ej的分别两交互作用的迭加，在通道k内被计数的事件的概率方程式Pi，j(k)；‑从所述概率方程式Pi，j(k)，决定迭加光谱(Emp)，所述迭加光谱(Emp)为仅单独对应所述迭加的测量光谱(Spmes)的部分；以及‑通过所述测量光谱(Spmes)及所述迭加光谱(Emp)的差值，计算或估计至少一第一校准光谱(Spcor)。
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