[发明专利]用于在CT投影图像序列中跟踪X射线标志的方法

摘要

一种快速地检测在投影图像序列中所识别的多个标志点，并将其映射到放置于患者或其他被扫描的物体上的物理标志的系统和方法。本发明的实施例允许可由电子处理单元执行的标志物理映射模块基于由扫描器所产生的图像数据而获得图像序列。所述图像序列中的每个图像表示所述扫描器转动的角度，并且包含每个均具有U位置和V位置的多个标志点。计算用于物理标志的预期U和V位置，并基于预期位置而生成候选标志点的列表。对图像进行处理，并将所选择的候选标志点添加到优良点列表。

主权项

一种将在投影图像序列中所识别的多个标志点映射到放置于患者或其他被扫描的物体上的物理标志的方法，所述方法由包括扫描器、带有电子处理单元的计算机和存储有可由所述电子处理单元执行的标志物理映射模块的存储器模块的成像系统执行，所述方法包括：在所述计算机处，基于由所述扫描器所产生的图像数据获得图像序列，所述图像序列中的每个图像表示所述扫描器转动的角度，且包含多个标志点，所述多个标志点的每个具有U位置和V位置；利用所述电子处理单元，计算用于所述图像序列中每个图像的所述物理标志的预期U位置和预期V位置，并且基于用于每个图像的所述预期U位置和所述预期V位置计算用于所述图像序列中的每个图像的预期U范围和预期V范围；利用所述电子处理单元，生成候选点列表，所述候选点列表包含在每个图像中具有在所述图像的所述预期U范围内的U位置以及在所述图像的所述预期V范围内的V位置的各个标志点；利用所述电子处理单元，对于所述候选点列表中的每个标志点，从所述U位置减去所述预期U位置并从所述V位置减去所述预期V位置，以生成分配给所述候选点列表中的每个点的跟踪误差值；利用所述电子处理单元，生成空的优良点列表，用于跟踪映射到所述物理标志的所述图像序列中的标志点；利用所述电子处理单元，将来自初始图像中的标志点作为优良点添加到所述优良点列表，并将该标志点指定为基准优良点；以及利用所述电子处理单元，基于所述优良点列表来处理所述图像序列中的下一个图像，所述处理包括：确定所述基准优良点和与所述下一个图像相关联的所述候选点列表中的每个标志点之间的导数值，以及将与最低导数值相关联的标志点添加到所述优良点列表。