[发明专利]光电子系统的测量仪器的校准方法

摘要

本发明涉及用于校准移动中的光电子系统的测量仪器的方法，其中光电子系统位于位置P1、P2、……、Pi、……，该光电子系统包括：用于获取包括固定对象G0的现场图像的器件（10），以及用于在图像获取期间对固定对象G0进行跟踪的装置（15），用于获取位置P1、P2、……的装置（20），至少一个距离测量仪器（25）和/或用于沿着瞄准线（LdV）测量测量仪器与固定对象G0之间的定向角和/或空间方位角的仪器（30），本发明包括以下步骤：在时刻t1、t2、……获取至少两个图像，每一个图像从不同的系统位置P1、P2、……来获取，固定对象G0在每一个图像中被瞄准，但其位置未知，在时刻t′1、t′2、……获取距离和/或角度的测量，使时刻t1、t2、……所确定的位置为P1、P2、……的距离和/或角度的测量同步，估计测量缺陷，其根据测量和系统的已知位置Pi、Pj使位置Pi处的瞄准线（LdV）与位置Pj处的瞄准线（LdV）之间的至少两个交叉点Gij的分散最小化。

主权项

一种用于校准运动中的光电子系统的测量仪器的方法，其中该光电子系统具有位置P1、P2、……、Pi、……，该光电子系统包括：‑用于获取包括固定对象G0的现场图像的器件（10），以及‑用于在所述图像获取期间对所述固定对象G0进行跟踪的装置（15），‑用于获取位置P1、P2、……的装置（20），‑至少一个用于测量距离的仪器（25）和/或用于根据瞄准线LdV测量所述测量仪器与所述固定对象G0之间的定向角和/或空间方位角的仪器（30），其特征在于，其包括与以下步骤：‑在时刻t1、t2、……获取至少两个图像，每一个图像基于不同的系统位置P1、P2、……来获取，所述固定对象G0在每一个图像中被瞄准，但其位置未知，‑在时刻t′1、t′2、……获取距离和/或角度的测量，‑使时刻t1、t2、……所确定的位置为P1、P2、……的距离和/或角度测量同步，‑估计测量缺陷，其根据所述测量和系统的已知位置Pi、Pj使位置Pi处的LdV与位置Pj处的LdV之间的至少两个交叉点Gij的分散最小化。