[发明专利]离子阱质谱仪有效

专利信息
申请号: 201080063985.2 申请日: 2010-11-24
公开(公告)号: CN102884608A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: A·沃伦奇科夫 申请(专利权)人: 莱克公司
主分类号: H01J49/48 分类号: H01J49/48;H01J49/46;H01J49/42
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李镇江
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开涉及离子阱质谱仪。提供用于测量多个等时离子振荡的频率的静电阱质谱仪的装置41和操作方法。为了改进吞吐量和空间电荷容量,所述阱基本上在一个Z方向上延伸,形成再现的两维场。为阱Z延伸提供了多种几何结构。分析的吞吐量通过对静电阱进行复用来改进。频率分析通过下述方式来加速,即,缩短离子包,并且对镜像电流信号进行小波拟合分析、或者使用用于对每次振荡的离子的小部分进行采样的飞行时间检测器。为了对静电阱中的离子注入进行最优化,建议多个脉冲式转换器。
搜索关键词: 离子 质谱仪
【主权项】:
一种静电阱(E阱)质谱仪,包括:(a)被无场空间隔开的至少两个平行电极组;(b)所述两个电极组中的每个形成在X‑Y平面中具有两维静电场的体积;(c)所述场的结构被调整以提供以下二者:所述X‑Y平面内的所述场之间通过的离子的稳定捕获、以及所述X‑Y平面内的等时重复离子振荡,以使得稳定离子运动不需要任何轨道运动或侧向运动;并且(d)其中所述电极沿着与所述X‑Y平面局部正交的、大致弯曲的Z方向延伸,以形成平面或环面场区。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于莱克公司,未经莱克公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201080063985.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top