[发明专利]测试电子装置无效
| 申请号： | 201080065881.5 | 申请日： | 2010-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN102812374A | 公开（公告）日： | 2012-12-05 |
| 发明（设计）人： | D.D.佩龙;R.D.马修斯;T.G.阿恩 | 申请（专利权）人： | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 段俊峰;卢江 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开的实施例涉及包括处理器和机器可读存储介质的电子装置，所述机器可读存储介质可包括用于测试电子装置的指令，所述指令包括用于执行可执行文件的指令以及用于用信号通知所述可执行文件启动对电子装置的测试的指令。所述机器可读存储介质还可包括用于在电子装置上的操作系统引导之前并在所述可执行文件完成执行之前，从所述可执行文件接收关于测试的信息的指令。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电子 装置 | ||
【主权项】：
一种编码有由处理器可执行的用于测试电子装置的指令的机器可读存储介质，所述机器可读介质包括：用于执行可执行文件的指令；用于用信号通知所述可执行文件启动对电子装置的测试的指令；以及用于在所述电子装置上的操作系统引导之前并在所述可执行文件完成执行之前，从所述可执行文件接收关于所述测试的信息的指令。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠普发展公司;有限责任合伙企业，未经惠普发展公司;有限责任合伙企业许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080065881.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
