[发明专利]用于检测磁芯中的磁特征参量的方法和装置有效
| 申请号： | 201080066146.6 | 申请日： | 2010-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN102985838A | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | P.哈姆贝格尔;A.莱克莫泽尔 | 申请（专利权）人： | 奥地利西门子公司 |
| 主分类号： | G01R33/07 | 分类号： | G01R33/07;G01R33/00;H01F27/38;H01F27/40 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 杜荔南;刘春元 |
| 地址： | 奥地利*** | 国省代码： | 奥地利;AT |
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| 摘要： | 用于检测被磁通量穿过的磁芯（2）的片段（L1）中的磁特征参量、尤其是磁场强度（H1）的方法，其中磁芯（2）的磁通量的一部分（18）被分叉并且至少分段地在磁旁路部分（7）中被引导，其中旁路部分（7）的磁材料不饱和，并且其中借助于传感器设备和分析设备（8，10）从磁通量的分叉部分（18）或者由此导出的参量中确定磁特征参量（H1）。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 中的 特征 参量 方法 装置 | ||
【主权项】：
用于检测被磁通量穿过的磁芯（2）的片段（L1）中的磁特征参量、尤其是磁场强度（H1）的方法，其中磁芯（2）的磁通量的一部分（18）被分叉并且至少分段地在磁旁路部分（7）中被引导，其中旁路部分（7）的磁材料不饱和，并且其中借助于传感器设备和分析设备（8，10）从磁通量的该分叉部分（18）或者由此导出的参量中确定磁特征参量（H1）。
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