[发明专利]用于测试多个被测器件的装置和方法有效
| 申请号： | 201080066220.4 | 申请日： | 2010-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN103003708A | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 克劳斯-皮特·贝仁斯;马克·毛斯恩格 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试（新加坡）私人有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 宋鹤 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 本发明的实施例涉及用于测试多个被测器件的装置（10）和方法，其中装置包括：公用器件输出线（5）；驱动器单元（2），被配置为向DUT（DUT1,DUT2,DUT3,…,DUTN）提供激励（ST），其中驱动器单元（2）被配置成使得激励（ST）在不同的时间（T1,T2,T3，…,TN）到达不同的DUT；从而在DUT处产生激励时间偏移（ΔST1,ΔST2,ΔST2,…,ΔSTN-1）；接收器单元（8），电气耦合到公用器件输出线（5）；以及多个DUT连接（C1,C2,C3，…,CN），电气耦合到公用器件输出线（5），使得多个DUT的DUT端子（11）可经由公用器件输出线（5）电气耦合到接收器单元（8），其中DUT输出信号（OS1,OS2,OS3,…,OSN）从DUT连接（C1,C2,C3,…,CN）传播到接收器单元（8）的输出信号传播延迟与激励时间偏移（ΔST1,ΔST2,ΔST2，…,ΔSTN-1）相适应，使得具有相同激励响应延迟的DUT的测试在接收器单元（8）处引起DUT输出信号（OS1,OS2,OS3，…,OSN）的时间上对齐的叠加（SPN-1）。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 多个被测 器件 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测试多个被测器件（DUT）的装置（10），该装置包括：公用器件输出线（5）；驱动器单元（2），被配置为向DUT（DUT1,DUT2,DUT3,…,DUTN）提供激励（ST），其中驱动器单元（2）被配置成使得激励在不同的时间（T1,T2,T3,…,TN）到达不同的DUT，从而在DUT处产生激励时间偏移（ΔST1,ΔST2,ΔST2，…,ΔSTN‑1）；接收器单元（8），电气耦合到公用器件输出线（5）；以及多个DUT连接（C1,C2,C3,…,CN），电气耦合到公用器件输出线（5），使得多个DUT的DUT端子能够经由公用器件输出线（5）电气耦合到接收器单元（8），其中DUT输出信号（OS1,OS2,OS3，…,OSN）从DUT连接（C1,C2,C3,…,CN）传播到接收器单元（8）的输出信号传播延迟（ΔOT1,ΔOT2，…,ΔOTN）与激励时间偏移（ΔST1,ΔST2,ΔST3，…,ΔSTN）相适应，使得具有相同激励响应延迟的DUT的测试在接收器单元（8）处引起DUT输出信号（OS1,OS2,OS3，…,OSN）的时间上对齐的叠加（SPN‑1）。
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