[发明专利]用于优化膜清洁工艺的方法和系统有效
申请号: | 201080066316.0 | 申请日: | 2010-09-30 |
公开(公告)号: | CN102985170A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | S.苏比亚;M.斯里尼亚斯;N.布胡塔尼 | 申请(专利权)人: | ABB研究有限公司 |
主分类号: | B01D61/12 | 分类号: | B01D61/12;B01D65/02;C02F1/44 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 徐晶;万雪松 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及用于脱盐和废水再使用工艺的反渗透分离工艺领域。更具体而言,本发明涉及用于估计膜清洁效率的方法和系统。在膜清洁工艺中,由于抗结构清洁化学品的使用,需要成本有效的操作和最小的膜变劣。本发明提供了通过操作反渗透膜清洁工艺历时受控清洁时间并在制备用于清洁膜的化学品液体中使用化学品浓度的受控值在进行脱盐或废水再使用的工厂中用于管理反渗透膜清洁工艺的方法。所述方法包括以下步骤:估计膜的结垢状态(140)和基于膜的结垢状态确定化学品液体中所需的化学品浓度的受控值和清洁所需的受控时间(160)。本发明还提供了使用所述方法和技术来使所述清洁工艺的功能和操作优化的系统。 | ||
搜索关键词: | 用于 优化 清洁 工艺 方法 系统 | ||
【主权项】:
通过操作反渗透膜清洁工艺历时受控清洁时间并在制备用于清洁膜的化学品液体中使用化学品浓度的受控值在进行脱盐或废水再使用的工厂中用于管理反渗透膜清洁工艺的方法,所述方法包括:a) 估计膜的结垢状态;和b) 基于膜的结垢状态确定化学品浓度的受控值和清洁所需的受控时间。
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