[发明专利]四极型质量分析装置有效

专利信息
申请号: 201080068523.X 申请日: 2010-08-06
公开(公告)号: CN103069540A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 水谷司朗;菅原博史 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: H01J49/42 分类号: H01J49/42;G01N27/62
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 除了设置进行质量扫描时决定稳定状态图上所绘制的扫描直线的斜率和位置的“增益”和“共用偏移”以外,还设置能够针对每个质量电荷比调整偏移的“质量对应偏移”,来作为提供给生成离子选择用直流电压的直流电压产生部(53)的控制参数。当利用标准试样进行自动调整时,在自动调整部(61)的控制下首先决定“增益”和“共用偏移”,之后决定针对各质量分辨率的“质量对应偏移”,使得质量分辨率大致均匀,并将它们存储到控制数据存储部(52)中。当分析目标试样时,四极电压控制部(51)按照从存储部(52)读出的控制参数控制直流电压产生部(53)、高频电压产生部(54)。即使由于检波部(56)的非线性而高频电压V为非线性,也能够使直流电压U变为与该非线性相似的折线状,质量分辨率大致均匀。
搜索关键词: 四极型 质量 分析 装置
【主权项】:
一种四极型质量分析装置,具备:离子源,其对试样进行离子化;四极滤质器,其由四根电极构成;四极驱动单元,其生成将与通过该四极滤质器的离子的质量电荷比相应的直流电压与高频电压相加得到的电压并施加于该四极滤质器;以及检测器,其对通过上述四极滤质器的离子进行检测,该四极型质量分析装置的特征在于,上述四极驱动单元包括:a)存储单元,其事先存储与质量电荷比相应的电压设定数据,并且分别事先存储增益、共用偏移、质量对应偏移来作为用于在进行质量扫描时改变与质量电荷比相应的直流电压的控制参数,其中,该增益用于决定直流电压与高频电压的振幅之比,该共用偏移用于决定不取决于质量电荷比的、根据扫描速度的不同而不同的偏移电压,该质量对应偏移用于针对质量扫描的范围内的多个质量电荷比分别设定不同的偏移电压;以及b)直流电压生成单元,其在执行质量扫描时生成施加于上述四极滤质器的直流电压,该直流电压是至少将以下电压相加而得到的,即对根据质量电荷比的变化从上述存储单元获取到的电压设定数据进行数字/模拟转换并与从上述存储单元获取到的增益相乘而得到的电压、对根据该时刻的扫描速度从上述存储单元获取到的共用偏移进行数字/模拟转换而得到的电压以及对根据质量电荷比的变化从上述存储单元获取到的质量对应偏移进行数字/模拟转换而得到的电压。
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