[发明专利]用于调试包括多个子系统的过程或制造厂解决方案的方法有效
| 申请号： | 201080069832.9 | 申请日： | 2010-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN103168277A | 公开（公告）日： | 2013-06-19 |
| 发明（设计）人： | M.赫尼克;R.德拉特;B.施勒特;K.朗格;J.拉卢 | 申请（专利权）人： | ABB技术有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02;G05B19/05;G05B19/042;G05B17/02;G06F11/36 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 柯广华;王忠忠 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 本发明涉及用于在厂或子系统级上调试工业厂或它的部分的控制系统（例如工厂小区、工厂线、机电单元、机器、加工厂或它的部分）的方法和系统，该控制系统包括具有相同或不同控制设备类型的至少两个不同的控制子系统，该控制子系统包括如PLC、DCS、机器人、驱动器、仪表和/或其他过程特定组件的装置中的特定可编程控制器单元，然而利用那些信号或参数的子集和有关条件，例如所述信号或参数的逻辑组合，控制系统跨它的子系统、装置和技术的所有需要的参数和信号在单个观测上提取和可视化并且用于限定系统范围的断点。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 调试 包括 个子 系统 过程 制造厂 解决方案 方法 | ||
【主权项】：
一种用于在厂或子系统级上调试工业厂或它的部分的控制系统的方法，其例如为工厂小区、工厂线、机电单元、机器、加工厂或它的部分，所述控制系统包括具有相同或不同控制设备类型的至少两个不同的控制子系统，所述控制子系统包括如PLC、DCS、机器人、驱动器、仪表和/或其他过程特定组件的装置中的特定可编程控制器单元，其特征在于利用那些信号或参数的子集和有关条件，例如所述信号或参数的逻辑组合，所述控制系统跨它的子系统、装置和技术的所有需要的参数和信号在单个观测上提取和可视化并且用于限定系统范围的断点。
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