[其他]薄膜晶体管有效

专利信息
申请号: 201090001016.X 申请日: 2010-04-21
公开(公告)号: CN202839621U 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 中谷喜纪;守口正生;神崎庸辅;高西雄大 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;G02F1/1368;H01L21/336
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型的目的在于维持薄膜晶体管的导通电流,并且降低截止电流。在TFT(100)中,在玻璃基板(101)上形成源极电极(110)和漏极电极(112),在它们的上表面分别形成有包括微晶硅的n型硅层(120、121)。在n型硅层(120、121)上形成微晶硅区域(135、136),在玻璃基板(101)上形成有非晶硅区域(130)。以覆盖它们的方式形成有微晶硅层(145)。因此,导通电流从漏极电极(112)按顺序通过微晶硅区域(135)、微晶硅层(145)、微晶硅区域(136),向源极电极(110)流动。另外,截止电流被非晶硅区域(130)限制。
搜索关键词: 薄膜晶体管
【主权项】:
一种薄膜晶体管,其特征在于, 是形成在绝缘基板上的顶栅型薄膜晶体管, 具备: 源极电极和漏极电极; 第1杂质半导体层和第2杂质半导体层,其含有第1导电型杂质和第2导电型杂质中的任一方,分别与上述源极电极和上述漏极电极电连接; 第1半导体层,其包括形成在上述第1杂质半导体层和第2杂质半导体层上的微晶半导体区域和在未形成有上述微晶半导体区域的区域中所形成的非晶半导体区域; 第2半导体层,其形成在上述第1半导体层上,包括微晶半导体;以及 栅极绝缘膜,其形成在上述第2半导体层上, 上述第1杂质半导体层和第2杂质半导体层包括微晶半导体,通过上述微晶半导体区域与上述第2半导体层直接电连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201090001016.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top