[发明专利]一种用于晶体硅太阳电池的复合钝化减反膜及制备方法无效
申请号: | 201110004888.2 | 申请日: | 2011-01-11 |
公开(公告)号: | CN102157570A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 褚君浩;窦亚楠;张传军;李钊明 | 申请(专利权)人: | 上海太阳能电池研究与发展中心 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/18;C23C16/40 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 201201 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种用于晶体硅太阳电池的复合钝化减反膜及制备方法,该复合钝化减反膜由依次置于晶体硅太阳电池迎光面发射极上的氧化硅层、非晶氧化铝层和非晶氮化硅层构成。该方法是采用PECVD工艺或ALD工艺在晶体硅太阳电池迎光面发射极上制备a-Al2O3层;采用退火工艺在发射极层和a-Al2O3层之间形成SiO2层;采用PECVD工艺在a-Al2O3层上制备a-Si-XNX层。本发明的优点是:a-Si1-XNX减反射膜减反射效果佳,a-Al2O3/SiO2复合钝化膜,起化学钝化和场钝化的双重效果,钝化效果优良;a-Si1-XNX/a-Al2O3/SiO2复合钝化减反射膜热稳定性好与后续电池制备工艺兼容;抗UV性能良好。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 晶体 太阳电池 复合 钝化 减反膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种用于晶体硅太阳电池的复合钝化减反膜,其特征在于:该复合钝化减反膜由依次置于晶体硅太阳电池迎光面发射极层(1)上的SiO2层(2)、a‑Al2O3层(3)和a‑Si1‑XNX层(4)构成;所述的a‑Al2O3层(3)是通过等离子体增强化学气相沉积或ALD沉积直接制备在太阳电池迎光面发射极层(1)上,其厚度为5‑20nm;所述的SiO2层(2)是通过退火工艺形成在发射极层(1)和a‑Al2O3层(3)之间,其厚度为1.5‑3nm;所述的SiO2层(2)和a‑Al2O3层(3)为复合钝化层,起表面钝化和场钝化的作用;所述的a‑Si1‑XNX层(4)是减反膜,对入射光起减反射的作用,其厚度为60‑100nm,其中组分X=0.5‑0.6。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海太阳能电池研究与发展中心,未经上海太阳能电池研究与发展中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110004888.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种结构可靠的木板件
- 下一篇:一种用于建筑初模的数控热切割加工装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的