[发明专利]一种具有超陡亚阈值斜率的阻变场效应晶体管及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201110021582.8 申请日: 2011-01-19
公开(公告)号: CN102117835A 公开(公告)日: 2011-07-06
发明(设计)人: 黄芊芊;詹瞻;黄如;王阳元 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/49;H01L21/336
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种具有超陡亚阈值斜率的阻变场效应晶体管,属于CMOS超大集成电路(ULSI)中的场效应晶体管逻辑器件与电路领域。该阻变场效应晶体管包括一个控制栅电极层、一个栅介质层、一个半导体衬底、一个源掺杂区和一个漏掺杂区,控制栅采用栅叠层结构,其依次为底层——底电极层,中间层——阻变材料层和顶层——顶电极层。本发明与现有的突破传统亚阈值斜率极限的方法相比,该器件有较大的导通电流、较低的工作电压以及较好的亚阈特性。
搜索关键词: 一种 具有 超陡亚 阈值 斜率 场效应 晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种阻变场效应晶体管,其特征在于,包括一个控制栅电极层、一个栅介质层、一个半导体衬底、一个源掺杂区和一个漏掺杂区,控制栅采用栅叠层结构,其依次为底层——底电极层,中间层——阻变材料层和顶层——顶电极层。
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