[发明专利]薄膜晶体管及其制造方法和电子装置有效
申请号: | 201110025941.7 | 申请日: | 2011-01-24 |
公开(公告)号: | CN102142520A | 公开(公告)日: | 2011-08-03 |
发明(设计)人: | 八木岩 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | H01L51/05 | 分类号: | H01L51/05;H01L51/30;H01L51/40 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及薄膜晶体管及其制造方法和电子装置。薄膜晶体管包括:有机半导体层;以及源电极和漏电极,源电极和漏电极彼此隔开并被设置为分别与有机半导体层重叠。有机半导体层包括:下部有机半导体层;以及上部有机半导体层,形成于下部有机半导体层之上,并具有高于下部有机半导体层的溶解性和导电性。下部有机半导体层从与源电极重叠的区域延伸到与漏电极重叠的区域,而上部有机半导体层被分别设置在与源电极重叠的区域和与漏电极重叠的区域的各区域中,以使得各上部有机半导体层彼此隔开。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 及其 制造 方法 电子 装置 | ||
【主权项】:
一种薄膜晶体管,包括:有机半导体层;以及源电极和漏电极,彼此隔开并被设置为分别与所述有机半导体层重叠,其中,所述有机半导体层包括:下部有机半导体层,以及上部有机半导体层,形成在所述下部有机半导体层上,并具有高于所述下部有机半导体层的溶解性和导电性,以及所述下部有机半导体层从与所述源电极重叠的区域延伸到与所述漏电极重叠的区域,而所述上部有机半导体层被分别设置在与所述源电极重叠的区域和与所述漏电极重叠的区域的各区域中,以使得各上部有机半导体层彼此隔开。
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H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
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