[发明专利]一种匀场装置的校正方法及装置有效
| 申请号： | 201110027355.6 | 申请日： | 2011-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN102621509A | 公开（公告）日： | 2012-08-01 |
| 发明（设计）人： | 戴睿彬;邢晓聪;贺强 | 申请（专利权）人： | 西门子(深圳)磁共振有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/38 | 分类号： | G01R33/38 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种匀场装置的校正方法及装置。其中，对匀场装置的每个测试位置均利用模体冠状面方向的相位图进行图像的对称度估计，从各测试位置所对应的图像对称度估计结果中，选取图像对称度估计结果最好的测试位置作为匀场装置的最佳布置点。通过本发明的实施，能够将匀场装置布置在上述最佳布置点，从而实现较好的匀场效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 装置 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种匀场装置的校正方法，该方法包括：A、对匀场装置的每个测试位置，获取模体的冠状面方向的相位图，提取所述相位图中的内部轮廓线，将所述内部轮廓线映射在一直角坐标系或者极坐标系中，得到对应的特征曲线，并对所述特征曲线进行对称度估计，得到所述测试位置处的图像对称度估计结果；B、选取图像对称度估计结果最好的测试位置作为匀场装置的最佳布置点。
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