[发明专利]一种快速测定光源波长及光强分布的方法有效

专利信息
申请号: 201110027635.7 申请日: 2011-01-26
公开(公告)号: CN102175331A 公开(公告)日: 2011-09-07
发明(设计)人: 王罗春;李晓华;齐雪梅;周振 申请(专利权)人: 上海电力学院
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00;G01J3/42
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种快速测定光源波长及光强分布的方法,将紫外灯置于自制的不锈钢密封装置中,密封以免光线外泄,然后再将自制的不锈钢密封装置置于紫外可见分光光度计测量光路中遮住测量光路,同时保持参比光路畅通,开启光度计,待基线扫描完成后,每隔一段时间对待测光源进行测量,将测试结果代入吸光度公式,根据所测得的紫外光谱图,得出待测紫外灯的波长及光强分布。此方法具有操作简单,测定速度快,扫描波长范围广,成本低的特点。
搜索关键词: 一种 快速 测定 光源 波长 分布 方法
【主权项】:
1.一种快速测定光源波长及光强分布的方法,其特征在于,具体包括如下步骤:1)自制的装置(1):装置四周密闭,装置(1)一侧开一窗口(2),窗口(2)正对且大于分光光度计测量光路通道,窗口(2)上安装一片薄玻璃;2)将紫外灯放进自制的装置(1)里面,紫外灯光可通过窗口(2)外泄;3)将放入紫外灯的自制的装置(1)放进紫外可见分光光度计中,挡住测量光路中的光线,保持紫外可见分光光度计参比光路畅通,自制的装置(1)的窗口(2)正对检测器,打开紫外灯,用待测紫外灯的光代替测量光路中的光;4)设置参数,开始基线扫描,消除背景值;5)待基线扫描完成,开始对待测紫外线灯光源进行检测,每隔设定时间扫描一次,保存每一次的光谱图,重复扫描过程进行分析;6)将扫描结果代入吸光度公式,其中式中,A为吸光度,I0为分光光度计参比光的光强,I为待测光源光强,利用所测得的紫外光谱图,得出待测紫外灯的波长及光强分布。
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