[发明专利]一种基于脚本的验证芯片性能的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201110028319.1 申请日: 2011-01-26
公开(公告)号: CN102073777A 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 杨磊;祝丹 申请(专利权)人: 北京中星微电子有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 黄灿;郭海彬
地址: 100083 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种基于脚本的验证芯片性能的方法和装置,方法包括:在用于验证芯片的脚本模块的外部,设置监视器模块;在所述脚本模块运行过程中,所述监视器模块获得并记录运行参数;每隔预定的时间段,由统计模块对所述运行参数进行统计,获得与时间相关的统计结果;由显示模块根据所述统计结果生成统计结果显示图像。本发明通过采用脚本模块外部的监视器模块,使得监视器模块不影响验证芯片的脚本模块本身的模拟进程,使得验证过程运算量小并且继承性好。
搜索关键词: 一种 基于 脚本 验证 芯片 性能 方法 装置
【主权项】:
一种基于脚本的验证芯片性能的方法,其特征在于,包括:在用于验证芯片的脚本模块的外部,设置监视器模块;在所述脚本模块运行过程中,所述监视器模块获得并记录运行参数;每隔预定的时间段,由统计模块对所述运行参数进行统计,获得与时间相关的统计结果;由显示模块根据所述统计结果生成统计结果显示图像。
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